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辰卓科技CZD800測(cè)試機(jī)：三大方面提升MCU類產(chǎn)品測(cè)試成本效益

  • 發(fā)布時(shí)間：2023-05-25
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辰卓科技CZD800測(cè)試機(jī)：三大方面提升MCU類產(chǎn)品測(cè)試成本效益

作為國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體的“頂流”，國(guó)產(chǎn)MCU市場(chǎng)規(guī)模、產(chǎn)品規(guī)格、工藝水平都在持續(xù)提升，在芯片測(cè)試方面，如何更加經(jīng)濟(jì)高效的執(zhí)行MCU芯片測(cè)試，也是整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈持續(xù)追求的目標(biāo)。


辰卓科技推出的CZD800數(shù)字測(cè)試機(jī)，面向MCU、Nor Flash、ASIC等數(shù)字類芯片的CP/FT測(cè)試，從系統(tǒng)架構(gòu)、硬件能力、軟件效率等各個(gè)方面進(jìn)行了專門的測(cè)試效率提升設(shè)計(jì)，能夠?yàn)镸CU類產(chǎn)品測(cè)試帶來(lái)更高成本效益。

CZD800在系統(tǒng)設(shè)計(jì)上創(chuàng)新采用嵌入式主控方式，從多個(gè)維度實(shí)現(xiàn)了測(cè)試執(zhí)行效率的提升：


ATE軟件系統(tǒng)直接部署在嵌入式主控，與Tester之間以系統(tǒng)內(nèi)通信方式進(jìn)行交互，配合自定義的軟硬件通信機(jī)制，在保障軟硬件指令執(zhí)行同步性與可靠性的同時(shí)，充分發(fā)揮系統(tǒng)內(nèi)通信機(jī)制的優(yōu)勢(shì)，簡(jiǎn)化通信流程，極大提升了Tester軟硬件交互效率。


相比外置主控方式，單指令交互時(shí)延從ms級(jí)別可提升到百ns級(jí)別。



嵌入式主控與各業(yè)務(wù)板擁有獨(dú)立高速物理連接通道，配套多核多線程資源，可將具體業(yè)務(wù)執(zhí)行分發(fā)至多塊業(yè)務(wù)板并行執(zhí)行，構(gòu)建高速化并行系統(tǒng)。


配套CZD800的程序語(yǔ)言在指令設(shè)計(jì)上充分考慮并行優(yōu)化，可以將并行系統(tǒng)能力發(fā)揮到極致，測(cè)試程序執(zhí)行效率更高。


以上優(yōu)化設(shè)計(jì)在實(shí)際量產(chǎn)中效果明顯。


以一款帶Nor Flash的MCU 12寸Wafer CP測(cè)試為例，128-site并測(cè)，測(cè)試分為3個(gè)CP段，CP1完成芯片MTP基礎(chǔ)編程功能測(cè)試，CP2完成測(cè)試程序?qū)懭?、核?外設(shè)功能測(cè)試、MTP區(qū)域編程的進(jìn)一步校驗(yàn)等，CP3完成Scan、Trimming、功耗等其他DC項(xiàng)測(cè)試。


與海外某同等配置機(jī)型對(duì)比，相同良率下辰卓科技CZD800數(shù)字測(cè)試機(jī)平均到每TD耗時(shí)共計(jì)27.2s（4+15.2+8），相比對(duì)比機(jī)型的32.3s（4.8+19.2+8.3），在測(cè)試效率上平均有15.7%的提升。



并測(cè)度提升是效率提升最有效的手段，CZD800通過豐富的單機(jī)資源提供高并測(cè)能力，單機(jī)可實(shí)現(xiàn)256-site并測(cè)


?  數(shù)字板單板128通道，自帶板級(jí)PMU、DPS資源和AWG功能，單機(jī)可達(dá)1024 IO通道

?  Pattern向量存儲(chǔ)空間128M行，測(cè)試速率200Mbps， Per-pin規(guī)格，無(wú)使用限制

?  高密度DPS板單板可支持64通道，高壓VI板可支持±40V 32通道，靈活搭配滿足各類測(cè)試供電需求

?  獨(dú)立的16-bit AWG板可提供更豐富的大數(shù)小模測(cè)試方案



CZD800配套全自研ATE軟件系統(tǒng)MetaATE，在指令設(shè)計(jì)、工具支持、人機(jī)交互方面均以高效、易用為設(shè)計(jì)目標(biāo)：

? 高內(nèi)聚指令簡(jiǎn)化程序開發(fā)步驟

MetaATE在程序指令的設(shè)計(jì)上充分考慮關(guān)聯(lián)操作的聚合性，一條指令可完成一類相關(guān)操作，極大簡(jiǎn)化了程序開發(fā)的步驟，可以節(jié)省至少20%的程序開發(fā)時(shí)間。

? 兼容性工具提升問題分析效率

?  在程序調(diào)試上MetaATE完全兼容標(biāo)準(zhǔn)C/C++工具，方便高效Debug

?  在工程開發(fā)上支持主流測(cè)試機(jī)工程直接轉(zhuǎn)換，極大提高了跨平臺(tái)工程轉(zhuǎn)換效率

?  在Pattern處理上，Pattern轉(zhuǎn)換工具支持主流測(cè)試機(jī)Pattern、EDA軟件直接生成的Pattern等快速的格式轉(zhuǎn)換；Pattern Editor編輯工具可以支持持續(xù)的Log捕獲，方便問題定位

?  其它如Shmoo、Match等也兼容多種工作模式（如Shmoo的單語(yǔ)句掃描和整測(cè)試項(xiàng)掃描，Match的智能匹配以提高燒錄等耗時(shí)項(xiàng)目的測(cè)試效率等等），針對(duì)不同場(chǎng)景提供更高效方式應(yīng)用方式


? 易用性UI降低軟件學(xué)習(xí)成本

MetaATE在程序開發(fā)、調(diào)試、Pattern處理、數(shù)據(jù)分析、系統(tǒng)配置等方面都進(jìn)行了良好的易用性設(shè)計(jì)，在商用中大幅降低了用戶掌握新平臺(tái)的學(xué)習(xí)成本，極大提升了用戶在測(cè)試工程開發(fā)、生產(chǎn)數(shù)據(jù)分析方面的效率，廣受客戶肯定。


除產(chǎn)品軟硬件設(shè)計(jì)帶來(lái)的效率提升外，CZD800在系統(tǒng)配置方面也非常靈活，產(chǎn)品支持1024/768/512/384等多種典型配置，方便用戶分階段配置、按需擴(kuò)容，提升成本效益。


自2021年開始提供MCU測(cè)試解決方案以來(lái)，產(chǎn)品已大量應(yīng)用于不同類型、不同規(guī)格的MCU芯片測(cè)試中，在測(cè)試成本效益方面對(duì)客戶助力顯著。

接下來(lái)辰卓科技將發(fā)布CZD800升級(jí)款產(chǎn)品CZD800H，CZD800H面向中高端SoC芯片測(cè)試，在資源規(guī)格、測(cè)試速率方面都會(huì)有大幅提升，將會(huì)為國(guó)產(chǎn)中高端SoC芯片測(cè)試帶來(lái)更高性價(jià)比方案。


辰卓科技秉持“半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)創(chuàng)新專家，助力半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)自主可控、高效可靠”的企業(yè)使命，在助力客戶提升測(cè)試成本效益方面不懈努力，將持續(xù)推出技術(shù)行業(yè)領(lǐng)先、測(cè)試高效穩(wěn)定的半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)產(chǎn)品及解決方案，與行業(yè)客戶合作共贏。

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