數(shù)字芯片測(cè)試系統(tǒng)解決方案
覆蓋數(shù)字芯片測(cè)試全流程，為各環(huán)節(jié)測(cè)試提供創(chuàng)新性方案
SoC芯片CP/FT檢測(cè)
辰卓科技系列化數(shù)字測(cè)試機(jī)方案可用于主流SoC芯片數(shù)字測(cè)試，方案具備如下優(yōu)勢(shì)：
● 并測(cè)度高：通道數(shù)多，單機(jī)可配1024IO，支持256-site并測(cè)，典型配置1024/768/512/384通道
● 存儲(chǔ)深度大：數(shù)字Pattern存儲(chǔ)深度可達(dá)128M每行；
● DC能力強(qiáng)：數(shù)字測(cè)試板集成PPMU、BPMU、BDPS功能，支持獨(dú)立的Force，Sense管腳，支持大電流輸出與高精度量測(cè)；
● 功能完善：提供測(cè)試程序、Pattern格式轉(zhuǎn)換器；提供Cable、Docking、Pogo Tower多種測(cè)試接口方案；支持常用外設(shè)接口協(xié)議，提供燒錄、配置功能。
使用場(chǎng)景：CP測(cè)試
● 數(shù)字通道數(shù)、測(cè)試頻率、存儲(chǔ)深度行業(yè)領(lǐng)先；
● 易于擴(kuò)展，根據(jù)測(cè)試需求可插板擴(kuò)容，最大能實(shí)現(xiàn)高達(dá)256-site并測(cè)；
● 具備高壓、大電流驅(qū)動(dòng)能力及高精度電壓、電流量測(cè)能力；
● 支持Cable、Docking、Pogo Tower多種接口，滿足多種芯片測(cè)試需求 n自帶主控，能快速適配各種Prober機(jī)臺(tái)。
使用場(chǎng)景：FT測(cè)試
● 輕量化數(shù)字測(cè)試機(jī)，測(cè)試頻率、存儲(chǔ)深度行業(yè)領(lǐng)先，可為數(shù)字芯片F(xiàn)T測(cè)試提供高性價(jià)比解決方案；
● 具備高壓、大電流驅(qū)動(dòng)能力及高精度電壓、電流量測(cè)能力；
● 支持Cable、Docking多種接口，滿足多種芯片測(cè)試需求；
● 自帶主控，能快速適配各種Handler機(jī)臺(tái)。